产品

MicroProf® FS

FRT MicroProf® FS 是一款全自动晶圆量测设备,可根据代工厂的广泛应用需求进行配置,既可采用标准化方案,也可提供定制化解决方案。

在当今晶圆代工领域,灵活性与多功能性是量测解决方案的关键。MicroProf FS 采用模块化架构,可打造全自动多探头设备,覆盖所有必要的测量任务。因此,它被称为 Foundry Star(代工明星)。

该系统的核心量测组件基于成熟的 FRT MicroProf® 300 多探头设计,通过混合量测(Hybrid Metrology)理念,能够在单一传感器或测量原理不足以满足需求时,提升对复杂样品的测量精度。设备配备花岗岩基座,可配置三点式样品固定夹具或真空吸盘,保证测量稳定性与可靠性。

产品亮点

  • 面向 MEMS 与晶圆代工厂的全自动多探头技术与混合量测配置
  • 可根据晶圆代工多样化应用需求进行定制化配置
  • 标准化硬件组件可灵活组合,满足客户特定量测方案
  • 具备对各类衬底的广泛适配性
  • 配套高性能自研软件,实现全自动 2D/3D 表面量测

产品

MicroProf® PT

面向先进封装半导体中的面板级量测与检测

Learn More >

MicroProf® FS

面向MEMS与晶圆厂的多传感器技术与混合测量方案

Learn More >

MicroProf® FE

全自动前端制程量测系统

Learn More >

MicroProf® DI

高精度光学表面检测,专为半导体应用打造

Learn More >

MicroProf® AP

灵活搭配多传感器的量测机台,适用于先进封装工序

Learn More >
返回产品