手动量测

高精度光学表面量测设备用于快速、高效、无损地测量各种功能性、技术性表面特征指标。由 FRT Metrology 开发的多探头技术为此类测量提供了最大的灵活性。它将不同的测量方法和传感器结合在一个通用的 MicroProf 系列设备中——根据应用和样品尺寸，可选择台式或独立式型号——节省空间并可随着测量需求的变化进行升级。